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電容測試儀
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產(chǎn)品名稱(chēng):
電容測試儀
產(chǎn)品型號:
3506
產(chǎn)品展商:
日本日置
產(chǎn)品文檔:
無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
電容測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類(lèi)BIN功能,是可對低容量電容器實(shí)現穩定測量精度并符合市場(chǎng)要求的產(chǎn)品。
電容測試儀
的詳細介紹
HIOKI(日置電機株式會(huì )社:日本國長(cháng)野縣上田市;社長(cháng):吉池達悅)開(kāi)發(fā)出*適合于測量頻率為1kHz、100kHz、1MHz測量所要求的低容量電容器測量的“C 測試儀 3506與C 測試儀 3505”。
低容量C測量?jì)x器
C 測試儀 3506與3505是用于測量電解電容器以外的電容器的C(靜電容量)測量?jì)x器,可測量頻率為1kHz、100kHz(**于3505)、1MHz的C(靜電容量)與D(損耗系數)。C 測試儀 3506與3505的測量范圍:C為0.000 pF~15.0000μF,D為0.00001~1.9900。*低量程為220 pF(1MHz時(shí)),與以往的產(chǎn)品相比,大幅度改進(jìn)了微小容量測量的重復精度。提高了測量期間檢測接觸出錯的能力,適合于裝入自動(dòng)檢查設備。
充實(shí)了從低容量到高容量的C儀表系列產(chǎn)品
在已經(jīng)發(fā)售的C 測試儀 3504的基礎上新增本次發(fā)售的C 測試儀 3506與3505,可進(jìn)行低容量到高容量的電容器C測量。各機型均可進(jìn)行*快2ms的高速測量,除了可應對taping machine 之外,還可以通過(guò)可將C測量值劃分為*多13或14*1類(lèi)別的BIN功能應用于分選機。 另外,可保存*多99或70*2組的測量條件,除了可通過(guò)外部控制選擇測量條件之外,還可以向外部輸出比較器結果與BIN分選測量結果等,完善了便于構建與自動(dòng)設備之間連接的接口。在構建高速自動(dòng)化生產(chǎn)線(xiàn)上發(fā)揮出強大的威力。
*1
3506與3505為13類(lèi),3504為14類(lèi)
*2
3506與3505為70組,3504為99組
電容測試儀產(chǎn)品概要
HIOKI已銷(xiāo)售了C 測試儀3504,電容器廠(chǎng)家與自動(dòng)設備廠(chǎng)家還要求提供可測量低容量電容器的C測量?jì)x器。C 測試儀 3506與3505繼承了3504獲得好評的高速檢查與測量值分類(lèi)BIN功能,是可對低容量電容器實(shí)現穩定測量精度并符合市場(chǎng)要求的產(chǎn)品。與3504一樣,C 測試儀 3506與3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB為標準配備,因此充實(shí)了簡(jiǎn)易構建自動(dòng)化生產(chǎn)線(xiàn)的功能。
電容測試儀便利性(C 測試儀 3506與3505的功能)
*快2ms(模擬測量1ms)的高速測量 -
具有*快2ms(FAST時(shí))的高速測量,可應對taping machine等的高速檢查。測量速度可進(jìn)行FAST/NORMAL/SLOW三檔選擇。
提高了重復測量精度 -
*低C量程為220 pF(1MHz時(shí)),與以往產(chǎn)品相比,微小容量測量的重復精度得到了提高。
充實(shí)了接觸檢測功能 -
利用振動(dòng)檢測功能等,可檢測測量期間的接觸出錯。出現接觸出錯的測量對象并非**,通過(guò)ERR(出錯)判定,有助于提高成品率。
比較器功能 -
可分別設定第1參數(C)與第2參數(D)的上、下限值。判定結果可利用蜂鳴器鳴響與LED顯示進(jìn)行通告,也可以進(jìn)行外部輸出,設定值可一直顯示。
只需要選擇的簡(jiǎn)單操作與LED顯示 -
是指從面板顯示所標記的項目中只需要進(jìn)行選擇的簡(jiǎn)易操作。設定的測量條件通過(guò)點(diǎn)亮LED進(jìn)行顯示,一目了然,便于把握設定條件。
BIN分選功能 -
C測量可根據測量值劃分為*多13類(lèi),因此易于進(jìn)行分選。
觸發(fā)器同步輸出功能 -
施加觸發(fā)后,輸出測量信號,僅在測量時(shí)向被測元件施加信號。由于接觸被測元件時(shí)沒(méi)有大電流,因此減輕了接點(diǎn)的磨損。
可保存70組測量條件 -
可保存*多70組測量條件,可迅速應對重復測量較多的生產(chǎn)線(xiàn)的被測元件切換。可利用EXT I/O讀取任意測量條件。
打印機輸出 -
通過(guò)RS-232C接口,可從選購件—9442打印機打印出測量值、比較器結果及BIN分選測量結果。這便于檢查結果的數據附加。
EXT I/O?RS-232C,GP-IB標準配備 -
觸發(fā)、測量條件的負載可從外部進(jìn)行控制。另外,可進(jìn)行比較器結果、BIN分選測量結果以及測量結束等的外部輸出,完善了與自動(dòng)設備之間的接口。
符合JIS標準 -
針對電解電容器以外的電容器,以較低的價(jià)格實(shí)現了基于JIS C 5101-1的,頻率為1kHz、1MHz的C-D(tanδ)測量。
電容測試儀主要用途
電容器廠(chǎng)家的檢查與分選
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