VLSI 測試系統
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產(chǎn)品名稱(chēng): VLSI 測試系統
產(chǎn)品型號: Model 3360-P
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3360-P VLSI 測試系統
VLSI 測試系統
的詳細介紹
主要特色：
- 25/50 MHz 測試頻率
- 25/50 Mbps data rate
- 256 logic I/O pins
- 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
- 平行測試可達 32 devices
- Real parallel Trim/Match 功能
- 時(shí)序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
- 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670 )
- AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN 測試 選配 (max 512M/chain)
- ALPG 測試 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
The Full Functions - Logic, LCD, LED, ADDA, Power, ALPG, SCAN,Match... etc.
