VLSI 測試系統
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產(chǎn)品名稱(chēng): VLSI 測試系統
產(chǎn)品型號: Model 3380
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3380 VLSI 測試系統
VLSI 測試系統
的詳細介紹
主要特色：
- 50/100 MHz 測試頻率
- 50/100 Mbps data rate
- 1024 I/O pins (*高可至1280 I/O pins)
- 平行測試可達1024 sites
- 32/64 M pattern 記憶體
- 多樣彈性 VI 電源
- 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA,)
- Real parallel trim/match 功能
- 時(shí)序頻率測試單位 (TFMU)
- 高速時(shí)序測試單位 (HSTMU)
- AD/DA 功能卡 選配
- SCAN 測試功能 選配 (*高 1G M/chain)
- ALPG 測試選配供記憶體IC用
- STDF 工具支援
- 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
- 人性化 Window 7操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
- 程式語(yǔ)言同 3380P & 3360P
Rich Functions and Wide Coverage : Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; CIS, SCAN, ALPG, Match..etc
CP/FT Direct mount solutions available from engineering to production; CP maintain compatibility to J750.
