VLSI 測試系統
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產(chǎn)品名稱(chēng): VLSI 測試系統
產(chǎn)品型號: Model 3360
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3360 VLSI 測試系統
VLSI 測試系統
的詳細介紹
主要特色：
- 50 MHz 測試頻率
- 608 個(gè) I/O 通道
- 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
- 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
- 平行測試可達 32 devices
- Real Parallel Trim/Match 功能
- 直接裝設 SC312, TS670 針測卡
- 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
- Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN test 選配 (512M)
- ALPG test 選配供記憶體用
- STDF 工具支援
- 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
- 即時(shí)pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
- 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
