VLSI 測試系統
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產(chǎn)品名稱(chēng): VLSI 測試系統
產(chǎn)品型號: Model 3380-P
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Model 3380-P VLSI 測試系統
VLSI 測試系統
的詳細介紹
主要特色：
- 85 MHz 測試頻率
- 512 logic I/O pins ( *高可至 576 pins)
- 平行測試可達 512 devices
- 16/32 M Pattern 記憶體
- 多樣彈性 VI 電源
- 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
- Real parallel Trim/Match 功能
- 時(shí)序頻率測試單位 (TFMU)
- AD/DA 功能卡 選配 (16 ~24 bits)
- SCAN 測試功能 選配 (1G/Board)
- ALPG 測試 選配供記憶體IC用
- STDF 工具支援
- 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
- 人性化 Window 7操作環(huán)境
- CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
- 程式語(yǔ)言同3360P & 3360
The Most Flexible Configuration for various types of devices, Rich functions and Wide coverage.
Rich Functions and Wide Coverage : Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match..etc
CP/FT Direct/Cable Mount Solutions (*1) available from engineering to Production;Maintain Compatibility to 3360 & 3360P.
