SoC 測試系統
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產(chǎn)品名稱(chēng): SoC 測試系統
產(chǎn)品型號: Model 3650-CX
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
應用范圍
MCU/MCU + 嵌入式記憶體
NAND Flash Controller
PC I/O
Switch ICs
智慧型電源管理裝置
混合訊號、數位式、類(lèi)比式 ICs
ADC/DAC/CODEC ICs
各類(lèi)消費性產(chǎn)品IC
適用工程研發(fā)、晶粒測試及 Final Test
電源 IC
LED 驅動(dòng) IC
SoC 測試系統
的詳細介紹
主要特色:
- 50/100MHz測試工作頻率
- 256個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
- 16/32 MW vector 記憶體
- 16/32 MW pattern instruction 記憶體
- Multi-site 測試可達 32 sites
- 16個(gè) DPS 通道
- 8個(gè) PMU 通道
- Per-Pin 時(shí)序頻率測試單位
- *高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
- 可選購記憶體測試用ALPG
- 高達 16 high-voltage pins
- 16 個(gè)高性能 DPS 通道
- 每片 VI45 類(lèi)比單板可支援8~32通道
- 每片 PVI100 類(lèi)比單板可支援2~8通道
- Windows® XP操作環(huán)境
- C++ 程式語(yǔ)言與圖形人機介面設計
- 采用CRISP完整多樣的系統軟體工具
- 與周邊設備相容性高
- All-in-One小型化氣冷式機臺設計,節省占地面積
- Cable Mount / Direct Mount
Chroma 3650-CX實(shí)現高性?xún)r(jià)比的IC測試系統
3650-CX采用All-In-One的小型化設計,除了擁 有相當競爭性的機臺價(jià)格之外,并具備高準確 性與高生產(chǎn)力。因此,能夠降低客戶(hù)的測試成 本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的 測試能力與強大的軟體工具,能夠用來(lái)測試包 含MCU,NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC,Switch,LED驅動(dòng)IC,以及Power IC和SoC等 產(chǎn)品。
強大且功能完整的3650-CX系統軟體 - CRISP
架構在Windows XP作業(yè)系統上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform),是一個(gè)結合工程 開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個(gè)部 份 : 執行控制模組、資料分析模組、程式除錯 模組以及測試機臺管理模組。透過(guò)親切的圖形 人機介面的設計,CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除 錯工具,包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組,可滿(mǎn)足研發(fā)/測試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí) 的需求與產(chǎn)線(xiàn)人員量產(chǎn)時(shí)的需求。
All-in-One小型化機臺設計節省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機臺的電源系 統全部整合在單一個(gè)測試頭的空間里,并且采用 氣冷式的設計。透過(guò)如此高整合度的小型化設 計,可以大幅減少機臺的占地面積,以節省整體 的測試成本。
周邊設備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅動(dòng)程式介面 (TTL & GPIB) , 可進(jìn)行與晶圓針測機和送料機, 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。