彈性化架構 
雖然半導體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設備應建立在可符合長(cháng)時(shí)間需求的設備之 上。Chroma3650在設計其架構時(shí)，應用先進(jìn) 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來(lái)多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環(huán)境) 
架構在Windows XP作業(yè)系統上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個(gè)結合工程開(kāi)發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個(gè)部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過(guò)親切的圖形人機介面的設 計，CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿(mǎn)足研發(fā)/測試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過(guò)特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測試階段。它提供產(chǎn)品 導向的圖形介面操作，用來(lái)控制 Chroma 3650、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇 程式設計者已規劃好的流 程，即可開(kāi)始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線(xiàn)上的學(xué)習的時(shí) 間。

*低價(jià)位的測試解決方案 
要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統。為了達成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時(shí)間和 整體成本來(lái)達成，而非只是簡(jiǎn)單地減少測試系統 的價(jià)格而已。Chroma 3650的設計即是可適用于 所有類(lèi)型的應用環(huán)境，例如 : 工程驗證、晶圓測 試和成品測試。周邊設備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅動(dòng)程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測機和送料機， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應用支援 
不管是新客戶(hù)或是現有客戶(hù)，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場(chǎng)的機會(huì )、提高生產(chǎn)力、以** 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人員皆會(huì )竭盡 所能提供客戶(hù)即時(shí)解有效率的解決方案。