雙用單站測試分類(lèi)機
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產(chǎn)品名稱(chēng): 雙用單站測試分類(lèi)機
產(chǎn)品型號: Model 3110
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類(lèi) 機，支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片， QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類(lèi)機運用 Pick & Place 技術(shù), 將待測晶片由進(jìn)料艙 移至測試區，再依測試結果進(jìn)行分類(lèi)。3110 不 但適用于系統功能檢測，也同時(shí)具備終端電性測 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執行測試 系統上的所有測試程式，旨在提供一個(gè)全能的解 決方案。
雙用單站測試分類(lèi)機
的詳細介紹
主要特色：
- 雙用單站測試分類(lèi)機
- 適用于終端測試或系統功能測試
- 自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測試結果自動(dòng)分類(lèi)的功能
- 測頭內建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的沖擊
- 智能型的載盤(pán)IC殘留偵測
- 可選配的三溫控制系統 (-40~135℃)
- 可選配的高功率冷卻系統
- 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗設備機，可自動(dòng)搜集與分析測試、實(shí)驗結果的數據支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有 自動(dòng)進(jìn)出料分類(lèi)艙及手動(dòng)分類(lèi)盤(pán)，可*優(yōu)化工程 測試的實(shí)驗數量。簡(jiǎn)易操作的操控畫(huà)面，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外，它能針對不同的測試環(huán)境 條件，提供數個(gè)溫控系統的選擇，如三溫控制系 統、高功率冷卻系統等，測試的環(huán)境溫度可設置 于常溫、高溫或低溫。
