微型 IC 測試分類(lèi)機
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產(chǎn)品名稱(chēng): 微型 IC 測試分類(lèi)機
產(chǎn)品型號: Model 3270
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Chroma 3270 能同時(shí)處理32個(gè)待測物進(jìn)行平行測試，并提供50?C~125?C高溫測試選擇。不但能提高產(chǎn)量，提升生產(chǎn)良率，同時(shí)大幅降低測試成本。
微型 IC 測試分類(lèi)機
的詳細介紹
主要特色：
- 適合 CMOS 影像感應組件量產(chǎn)需求
- 可靠的高速 Pick&Place 分類(lèi)機
- 3x3 mm 微型 IC 處理能力
- 浮動(dòng)頭可有效率平衡測試壓力
- 自動(dòng)測試壓力學(xué)習
- IC 殘留檢測功能Chroma 3270 是一款**的微型 IC 測試分類(lèi)機，特別適合 CMOS 影像感應組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類(lèi)型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù)，可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC，移動(dòng)到測試位置，然后將測試后產(chǎn)品置于適當之 Tray 盤(pán)。
