SD Card 測試分類(lèi)機
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產(chǎn)品名稱(chēng): SD Card 測試分類(lèi)機
產(chǎn)品型號: Model 3280
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Chroma 3280整合了測試機臺與自動(dòng)分類(lèi)機的功 能,并采用**的設計,滿(mǎn)足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類(lèi)產(chǎn)品的測試需求,不論是在機臺的成本或是 體積上,都比傳統的測試機臺來(lái)的大幅降低,因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
SD Card 測試分類(lèi)機
的詳細介紹
主要特色:
- 整合SD卡測試機與自動(dòng)分類(lèi)機功能
- 平行測試120個(gè)micro SD卡
- Test-In-Tray
- UPH = 5400 (以70秒的測試時(shí)間為例)
- 支援SD卡資料通訊協(xié)定
- 支援DC參數量測功能
- Microsoft Windows XP OS
- 提供Tray Map與分類(lèi)結果資訊
- 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
- 選配設備
- 3rd Party測試模組整合
- Mini SD, SD與MMC的測試介面
- SD卡資料寫(xiě)入模組
Chroma 3280采用**的技術(shù)整合SD卡測試機與 自動(dòng)分類(lèi)機的功能,并利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達到大量平行測試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測 試的功能,3280為所有的SD卡類(lèi)產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)**的測試方法,而這高效率的測試方法也為 客戶(hù)帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外,小機 臺的設計更可節省機臺于測試廠(chǎng)之占地面積。
對于低價(jià)的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距,制造商也會(huì )極為敏感。而這樣 的特性往往是此類(lèi)消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰。對于SD卡類(lèi)產(chǎn)品而言,為了能夠降低 生產(chǎn)的成本,SD卡類(lèi)制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因,乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類(lèi) 產(chǎn)品,將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求,只需針對成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢
Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案
Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤(pán)中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法,可以大幅 節省傳統的測試方法因自動(dòng)分類(lèi)機在進(jìn)行測試 時(shí),必須以機器手臂夾取每個(gè)待測元件所需花取 的索引時(shí)間。因此,提供了一個(gè)*有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個(gè)SD卡進(jìn)行測 試時(shí)所需花費的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。
高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專(zhuān)屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive),此一測試機巢提供 了能夠同時(shí)測試120個(gè)micro SD卡的測試能力。
SD卡測試模組 : Firecracker II
Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計完全一樣。 對于3280的使用者而言,Firecracker II是一個(gè)相 當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線(xiàn) 的狀態(tài)下,用來(lái)產(chǎn)生或測試其測試程式。透過(guò)多 樣化轉接介面的設計,使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物,而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽,配合Firecracker II所提供的軟體程式, 使用者將可進(jìn)行直接的測試或是除錯等工作。
測試能力
SD Protocol Aware Tests
- Check CID Reg
- Check CSD Reg
- Check OCR Reg
- Check SCR Reg
- Check SD Status
- Functional Test
DC Measurements
- Open/Shorts
- ESD Diodes
- Power Up Idd
- Leakage
軟體功能
- 使用者權限與密碼管理
- 機臺狀況警示偵測系統
- 視覺(jué)化圖解顯示機臺卡件錯誤發(fā)生區域
- 提供離線(xiàn)模擬執行模式
- 即時(shí)測試結果顯示與更新
- 可個(gè)別指定或取消單一待測物之測試
- 測試良率與UPH資訊顯示
- 多種良率監控指標設定
- 測試中機臺開(kāi)門(mén)中斷保護功能
- 緊急停機控制功能
- 系統警示紀錄保存功能
測,而不需要再對整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測 試。