無(wú)線(xiàn)射頻分類(lèi)機
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產(chǎn)品名稱(chēng): 無(wú)線(xiàn)射頻分類(lèi)機
產(chǎn)品型號: 3240-Q
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
符合成本效益的RF整合方案
客制RF隔離室和整合Tester安裝
可調整測試間距至120mm
具有八個(gè)平行測試站點(diǎn)
支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm
**的定位能力
支援JEDEC和EIA料盤(pán)
無(wú)線(xiàn)射頻分類(lèi)機
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
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符合成本效益的RF整合方案
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客制RF隔離室和整合Tester安裝
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可調整測試間距至120mm
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具有八個(gè)平行測試站點(diǎn)
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支持的芯片尺寸從3x3 mm到45x45mm
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**的定位能力
3240-Q是一臺獨特且**、整合了射頻和無(wú)線(xiàn)隔離室之自動(dòng)分類(lèi)機。此機臺配置多達八個(gè)測試站點(diǎn)和獨立的隔離作平行測試。3240-Q具有順暢的自動(dòng)化測試、**的Pick&Place技術(shù)、彈性的多測點(diǎn)架構、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢，適用于射頻和無(wú)線(xiàn)芯片測試。
3240-Q也可依據測試需求支持各種不同類(lèi)型封裝的芯片。具有自動(dòng)送料/分料盤(pán)設計，3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤(pán)規范。另有選配的加強溫控的測試能力，可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境。
