晶片測試分類(lèi)機
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產(chǎn)品名稱(chēng): 晶片測試分類(lèi)機
產(chǎn)品型號: 3112
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測試分類(lèi)機
x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測試分類(lèi)
全方位(X/Y/Z/θ)可調式探針座模塊
測式座產(chǎn)品堆棧檢測
x12輸出分類(lèi)盤(pán)可程序設定輸出類(lèi)別
全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
晶片測試分類(lèi)機
的詳細介紹
產(chǎn)品特色
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高信賴(lài)度之PnP自動(dòng)化測試分類(lèi)機
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x4 多盤(pán)置入自動(dòng)測試分類(lèi)
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全方位(X/Y/Z/θ)可調式探針座模塊
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測式座產(chǎn)品堆棧檢測
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x12輸出分類(lèi)盤(pán)可程序設定輸出類(lèi)別
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全程實(shí)時(shí)良率顯示與控制
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全程探針接觸狀態(tài)顯示(選配)
Chroma 3112具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化芯片測試分類(lèi)機，可藉由治具變更處理各種不同尺寸規格之芯片測試與分類(lèi)。此設備透 過(guò)PnP方式將芯片自芯片盤(pán)加載至測試站中，**的測試后依據測試結果穩定的放置于分類(lèi)盤(pán)中。其高效率的模塊化設計與精準的機構傳動(dòng) 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產(chǎn)要求，多重檢查功能裝置可降低待測物發(fā)生異常的損壞。
芯片測試運用此自動(dòng)化測試分類(lèi)技術(shù)不僅能提升 生產(chǎn)效率、減少人力需求，同時(shí)也增加了測試穩定度及測試良率。此外，其簡(jiǎn)潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠(chǎng)之占地面積，幫助客戶(hù)大幅降低生產(chǎn)成本。
